进口集成电路的一种拆机翻新案例分析
CSTR:
作者:
作者单位:

航天材料及工艺研究所

作者简介:

马兆庆,1981 年出生,高级工程师,主要从事电子元器件的失效分析和破坏性物理分析工作。

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Case Study of Renovating Used Imported Integrated Circuit
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    结合失效分析的实际案例,通过扫描电子显微镜、能谱分析、金相分析等手段,发现了将拆机进口
    集成电路的外引线重新焊接,并经简单的表面处理后,作为“崭新冶集成电路的翻新手段。失效分析表明,这类
    失效模式通常只能在使用过程中发现,且具有批次性,潜在的危害十分严重。因此,在加强进口集成电路采购
    渠道、质量等级要求的同时,必须加快进口集成电路国产化的进程, 才能进一步提高航天产品的质量可靠性。

    Abstract:

    According to examples of failure analysis, a new method of renovating used imported integrated cir鄄
    cuit was found that comprises rewelding the outer leads of the used one as a “new冶one after simple surface treatment,
    by utilizing SEM, EDS and metallographic analysis. It is pointed that such failure mode is always found during the us鄄
    age and has characteristic in batch which has the very seriously potential damage. It is considered that the process of
    domestication of imported integrated circuit should be accelerated while the purchase channels and quality require鄄
    ments should be strengthened in order to further improve the quality and reliability of aerospace products.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

马兆庆.进口集成电路的一种拆机翻新案例分析[J].宇航材料工艺,2014,44(5):76-79.

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2014-04-23
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2016-11-28
  • 出版日期:
文章二维码