宇航用元器件锡晶须生长研究
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北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司

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Tin Whisker Growth in Aerospace Components
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    摘要:

    通过分析锡晶须的研究历史,将锡晶须的研究归结为三个阶段:早期对锡晶须现象的研究、锡晶
    须生长机理的研究和减缓锡晶须生长方法的研究。比较了锡晶须长度及密度的测量方法。总结了目前抑制锡
    晶须生长的方法:在不同基底材料上采用不同厚度镀锡层;使用Ni、In 等阻挡层;对镀层表面进行热处理和回
    流处理;避免使用纯锡镀层,镀层合金化;在镀层表面覆盖保形涂层。

    Abstract:

    The research history of tin whisker can be divided into three stages—the study of the early phenomena
    of tin whisker, growth mechanism of tin whisker and the mitigation of the growth of tin whiskers. The methods for
    measuring length and density of tin whisker are compared. The methods of mitigating growth of tin whisker are summa
    rized, including choice of different thickness of tin layer with different substrate materials, using barrier layer such as
    nickel and indium, surface reflow treatment and heat treatment of the surface finishes, avoiding a local pure tin plat
    ing, covering with conformal coat on the surface finishes.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

王群勇 刘燕芳 白摇桦 吴文章 孙旭朋.宇航用元器件锡晶须生长研究[J].宇航材料工艺,2010,40(3).

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  • 在线发布日期: 2016-11-28
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