高过载电子产品灌封加固可靠性研究
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作者:
作者单位:

上海无线电设备研究所,上海 201109

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通讯作者:

中图分类号:

TJ410

基金项目:

国家自然科学基金(52205277)


Research on the Reliability Technology of Encapsulation and Reinforcement of Anti-high Overload Electronic Products
Author:
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Shanghai Radio Equipment Research Institute,Shanghai 201109

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    摘要:

    针对电子产品在高过载环境下耐受力低的问题,研究并制备了性能优良的环氧灌封胶。采用ANSYS19.2软件对产品组件进行20 000 g冲击条件下的模拟仿真,计算不同加固方式下BGA焊球的等效应力分布。结果表明,同时采用底部填充胶与灌封胶的组件,其焊球受到的等效应力最小。通过可靠性试验与分析对仿真结果进行验证,试验结果表明,同时采用底部填充和灌封加固的方法能有效提高电子产品在20 000 g高过载环境下的可靠性。

    Abstract:

    Aiming at the problem of low tolerance of electronic products under high overload environments,an epoxy encapsulant with excellent performance was investigated and prepared.ANSYS 19.2 software was employed to conduct simulation analysis on the product assembly under a 20 000 g impact condition,and the equivalent stress distribution of BGA solder balls under different reinforcement schemes was calculated.The results show that the equivalent stress exerted on the solder balls is minimized in the assembly using both underfill and encapsulant simultaneously.The simulation results are verified through reliability tests and analyses.Experimental results demonstrate that the combined application of underfilling and encapsulation reinforcement can effectively improve the reliability of electronic products in a 20 000 g high overload environment.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

季磊,孙嘉隆,蒋海峰,于建鹏,李鹏.高过载电子产品灌封加固可靠性研究[J].宇航材料工艺,2026,56(2):22-28.

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  • 收稿日期:2024-08-17
  • 最后修改日期:2025-05-10
  • 录用日期:2025-05-21
  • 在线发布日期: 2026-05-07
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