首页 > 过刊浏览>2006年第36卷第6期 >
PDF HTML阅读 XML下载 导出引用 引用提醒
X波段低损耗材料复介电常数自动测量系统
DOI:
CSTR:
[cstr]
作者:
作者单位:

西北工业大学电子信息学院,西安,710072;山东航天电子技术研究所,烟台,264001%西北工业大学电子信息学院,西安,710072

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


An Automatic System for Complex Permittivity Measurement of Low-Loss Materials at X Band
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
    • |
  • 图/表
    • |
  • 访问统计
    • |
  • 参考文献
    • |
  • 相似文献
    • |
  • 引证文献
    • |
  • 资源附件
    • |
  • 文章评论
    摘要:

    介绍了用圆柱谐振腔测量低损耗介质材料复介电常数的自动测量系统.该系统可根据加载介质前后圆柱谐振腔的谐振频率和品质因数,计算出被测材料的相对介电常数ε'r和损耗角正切tanδ.系统设计时,采用对固定尺寸的圆柱谐振腔进行扫频测量的方法,提高了测量精度;采用反相馈电和在腔壁开槽的方法来抑制干扰模式.用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果令人满意.

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

李巍%韦高%杨金孝. X波段低损耗材料复介电常数自动测量系统[J].宇航材料工艺,2006,36(6).

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2016-11-28
  • 出版日期:
文章二维码

您是本站第 4754718 访问者

京公网安备：11010602060147号 京ICP备06019415号-2

地址：北京9200信箱73分箱

邮编：100076 传真：010-68383237

电话：010-68383269 E-mail：703@china.com

版权所有：宇航材料工艺 ® 2024 版权所有