射线透照等效系数测试方法分析
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蔡闰生,1963 年出生,硕士,主要从事射线检测工艺研究。

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Analysis of Radio Graphic Equivalent Factor Test Method
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    摘要:

    为获得不同透照电压下不同标准材料的射线透照等效系数,以50 kV 透照电压为例,以钛为标准 材料,揭示了同时透照法和图像法两种等效系数的测试方法。通过对同时透照法步骤及存在问题的分析,引入 了解决问题的阶梯扩展和厚度校正两种手段。在等效系数图像法的分析过程中,明确了曝光曲线种类和黑度 选取的原则,阐述了曝光曲线与图像法的关系,结合数学手段运用,获得了等效系数与透照电压相关,但不随曝 光量改变而变化的结论。

    Abstract:

    In order to get radiographic equivalent factor for different materials under different transillumination voltage, the essay used two testing methods of simultaneous transillumination and exposure curve graphic in the environment of 50 kV transillumination voltage,using titanium as standard material. Through the analysis of the steps and problems of simultaneous transillumination method, the essay took in two means of ladder extension and thickness verification as the settlement of the problem. Though the analysis of exposure curve graphic method, the essay affirmed the rules on choosing exposure curve and blackness, explained the relationship between the exposure curve and graphic method. Combined with mathematical tools,the essay obtain the conclusion that the equivalent factor is associated with transillumination voltage, but will not change with the exposure quantity.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

蔡闰生,袁生平,任华友.射线透照等效系数测试方法分析[J].宇航材料工艺,2014,44(4):86-89.

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  • 收稿日期:2014-06-03
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  • 在线发布日期: 2017-02-10
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