X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数

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X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数
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CSTR:
                        [cstr]
                    
作者:
                        
                        
                    
作者单位:航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京 100076
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DeterminationofLatticeConstantsforC/CCompositesbyUsingX-ray DiffractionTechniqueandRietveldRefinementMethod

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利用X射线衍射仪,采用全谱拟合的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a 的标准偏差小于2.0×10-3,c 的标准偏差小于1.4×10-3,石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(Lc002)的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法。

Abstract:

Graphitizationdegree,latticeconstantandcrystallitesizesofthreekindsofC/Ccompositesweremeasured byrietveldrefinementmethod(wholespectrumfitting)ofX-raydiffraction.Theresultsshowthatstandarddeviationof crystaltheparameterofthethreeC/Ccompositesislessthan2.0×10-3,standarddeviationofgraphitizationdegree(g)is lessthan1.5,standarddeviationofcrystallitesizes(Lc002)islessthan0.5.RietveldrefinementmethodofX-raydiffractionis effectiveforinvestigationofthecrystalparametersofC/Ccomposite.

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王晓叶李同起郑斌冯志海李仲平. X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数[J].宇航材料工艺,2010,40(2).

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在线发布日期: 2016-11-28
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